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首頁 > 產品中心 > Tektronix 美國泰克>Tektronix泰克/示波器 > MDO4024C/34C/54C/4104C泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器

泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器

簡要描述:

泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器新款 MDO4000C 內置多達六種儀器,每種儀器均具備應對嚴苛挑戰的性能。每臺示波器均提供強大的觸發、搜索和分析功能,市場上僅這些示波器同時提供同步模擬、數字和 RF 信號分析功能,是在 IoT 及 EMI 故障排除中建立無線通信的理想選擇。

型號:MDO4024C/34C/54C/4104C

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更新日期:2024-10-24

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泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器
品牌TeKtronix/美國泰克產地類別進口
類型數字示波器應用領域綜合

泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器新款 MDO4000C 內置多達六種儀器,每種儀器均具備應對嚴苛挑戰的性能。每臺示波器均提供強大的觸發、搜索和分析功能,市場上僅這些示波器同時提供同步模擬、數字和 RF 信號分析功能,是在 IoT 及 EMI 故障排除中建立無線通信的理想選擇。如果要獲得更多功能,您只需添加選配的任意波形/函數發生器,即可輕松捕獲、編輯和重播各種信號。

混合信號和混合域示波器主要性能指標

泰克Tektronix 混合信號和混合域示波器參數

型號:MDO4054C 、MDO4024C、MDO4034C、MDO4104C

模擬通道:4

模擬通道帶寬:500MHz

上升時間,典型 :700ps

采樣率(1個通道):2.5GS/s

采樣率(2個通道):2.5GS/s

記錄長度(1個通道):20M

記錄長度(2個通道):20M

記錄長度(4個通道):20M

電源電壓:100至 240V±10%

電源頻率:50~ 60Hz±10%@100~ 240V±10%

400Hz±10% @ 115V±13%

電源電壓:100 至 240 V ±10%

功耗zui高 250W

外觀尺寸:229x439x147mm

重量:5.5kg

性能指標

1、示波器4條模擬通道

1GHz、500MHz、350MHz和200MHz帶寬型號

帶寬可升級(高達1GHz)

zui高達 5GS/s采樣率

所有通道上 20M記錄長度

> 340,000wfm/s的zui大波形捕獲速率

標配無源電壓探頭,3.9pF 電容負載,1GHz或500MHz 模擬帶寬


      2、頻譜分析儀(選配)頻率范圍 9kHz - 3GHz或9KHz- 6GHz

超寬捕獲帶寬 ≥1 GHz

頻譜分析儀的時間同步捕獲功能,支持模擬采集和數字采集

頻率對時間、幅度對時間和相位對時間波形


      3、任意函數發生器(選配)13種預先定義的波形類型

50MHz波形生成功能

128k任意波形發生器記錄長度

250MS/s任意波形發生器采樣率


       4、邏輯分析儀(選配16條數字通道

所有通道上20M記錄長度

60.6ps定時分辨率

5、協議分析儀(選配)

支持 I2C、SPI、RS-232/422/485/UART、USB 2.0、以太網、CAN、CAN FD、LIN、FlexRay、MIL-STD-1553、ARINC-429和音頻標準等串行總線


  6、數字電壓表/頻率計數器(產品注冊后免費提供)

4位 AC RMS、DC和AC+DC RMS電壓測量

5位頻率測量

 應用

嵌入式設計

在混合信號嵌入式系統上執行系統級調試,迅速發現和解決問題,包括當前zui常見的串行總線和無線技術。

功率設計

使用自動功率質量、開關損耗、諧波、紋波、調制和安全作業區測量,在經濟的解決方案中提供zui廣泛的功率探頭選擇范圍,進行可靠的、可重復的電壓、電流和功率測量。

EMI調試

確定哪些時域信號可能導致不想要的EMI,迅速追蹤嵌入式系統中的EMI來源。實時查看時域信號對系統EMI輻射的影響。

無線調試

在使用藍牙、802.11WiFi、ZigBee或某些其他無線技術時,MDO4000C可以查看整個系統,包括模擬信號、數字信號和RF信號,而且在時間上同步,了解其真實特點。在一次捕獲中,捕獲超寬頻段,查看多種無線技術之間的交互,或查看現代標準(如802.11/ad)中的整個寬帶頻率范圍。

教育

管理工作臺上的多臺儀器可能會非常麻煩。MDO4000C把六種儀器整合到一臺儀器中,不需要管理多臺儀器。集成頻譜分析儀可以講授高級無線技術課程,同時使要求的投資達到小。全面升級能力可以在需求變化時或在預算允許時再增加功能。

制造測試和調試

規格和空間限制可能會給車間帶來巨大影響。du一無二的六合一MDO4000C把多臺儀器整合到一臺小型儀器中,zui大限度地減少了機架或工作臺空間。整合降低了在制造測試或調試站中使用多種不同儀器的相關成本。



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